鉴定珠宝必备仪器：微分干涉显微镜

 微分干涉显微镜（Differential Interference Contrast Microscope)是一种特殊形式的干涉显微镜，通常被用于观察物体内由于各点的折射率不同，光通过时造成光程差不同的现象。只分开1μm或者更小距离的两束相干光通过标本产生干涉后，标本内邻近两点的光程差经显微镜中特殊的光学系统转变为振幅（光强度）的变化，从而可观察到标本内细微的结构，所以称为微分干涉显微镜。用微分干涉法观察样品，会看到宝石显微镜下所看不到的许多细节，明场下难以区分的一些结构细节或缺陷，如凹凸面、裂隙、孔洞等可通过微分干涉进行反差增强而容易观察，微分干涉法对于具光滑表面的珠宝材料微细结构的观察很有效。金刚石晶体表面倒三角蚀像的微细结构能清晰地通过干涉色的差异呈现出来。